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教学大纲 - 您将从这门课程中学到什么

1
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完成时间为 1 小时

INTRODUCCIÓN AL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO

Te damos la bienvenida al curso de microscopia para la caracterización, en este curso el estudiante aprenderá las partes esenciales y el funcionamiento de los diversos microscopios y técnicas de medida relacionadas, así como las diversas aplicaciones. El curso está diseñado para desarrollarse a lo largo de 5 semanas, con una dedicación de 3 horas semana. Al finalizar cada módulo el alumno encontrará un cuestionario el cual deberá aprobar con un 80% de puntuación para la obtención de un certificado de aprovechamiento....
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4 个阅读材料
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Introducción al curso "Técnicas Microscópicas de Caracterización"10分钟
"Las gafas de lo invisible"10分钟
Objetivos10分钟
Referencias de los 5 módulos10分钟
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完成时间为 1 小时

Módulo 1: Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

En este módulo se pretende mostrar la estructura y los principios básicos de funcionamiento del Microscopio Electrónico de Barrido (MEB o SEM en su acrónimo en inglés). Veremos qué tipo de fenómenos se producen dentro del microscopio al interaccionar el haz de electrones con la muestra y de qué manera se aprovechan las diferentes señales generadas para proporcionar, con gran resolución, información morfológica, topográfica y de composición, siendo muy útil para una gran variedad de aplicaciones científicas y industriales....
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1 个视频 (总计 5 分钟), 5 个阅读材料, 1 个测验
Video1 个视频
Reading5 个阅读材料
Elementos básicos del SEM10分钟
La interacción de los electrones con la muestra10分钟
Microanálisis de Rayos X10分钟
Cañón de electrones10分钟
Ventajas y desventaja generales del SEM10分钟
Quiz1 个练习
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)20分钟
2
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完成时间为 1 小时

Módulo 2: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

En este módulo se presenta la configuración de un microscopio electrónico de transmisión (TEM). Mientras en un microscopio SEM, las imágenes se forman con electrones secundarios arrancados de la muestra, o con electrones del haz primario que han sido retrodispersados al interaccionar fuertemente con los átomos del material, en un TEM las imágenes se forman con los electrones que han atravesado la muestra. Veremos los modos más fundamentales de operación para obtener una imagen ampliada de la muestra, incluso con resolución atómica, o para obtener diagramas de difracción de electrones que contienen información sobre la estructura cristalina de los materiales observados. ...
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1 个视频 (总计 5 分钟), 6 个阅读材料, 1 个测验
Video1 个视频
Reading6 个阅读材料
¿Por qué ver con electrones?10分钟
Estructura del TEM10分钟
Aberraciones10分钟
Algo de física del estado sólido10分钟
Difracción de electrones10分钟
Imágenes en un TEM10分钟
Quiz1 个练习
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)22分钟
3
完成时间(小时)
完成时间为 1 小时

Módulo 3: Microscopía Electrónica de Transmisión de Barrido (STEM)

En este módulo presentamos el microscopio electrónico de transmisión y los modos de operación básicos con haz paralelo para obtener imágenes y patrones de difracción de electrones. En este tercer módulo, se presenta la posibilidad de trabajar con un haz convergente y de pequeño tamaño, que además barre la superficie de la muestra por la acción de bobinas electromagnéticas deflectoras, dando lugar al llamado modo de barrido – transmisión (STEM). La señal de interés en este caso, proviene de la interacción quasi-elástica de los electrones con los núcleos de los átomos de la muestra para obtener imágenes cuyo contraste depende del número atómico de los mismos, o bien de la interacción inelástica con la nube electrónica de los átomos de la muestra, para medir la pérdida de energía que ha sufrido el haz de electrones primario y extraer información sobre la composición del material y el estado de oxidación de los elementos que lo componen....
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1 个视频 (总计 4 分钟), 6 个阅读材料, 1 个测验
Video1 个视频
Reading6 个阅读材料
Dispersión y difracción de electrones10分钟
AEM (Microscopía Electrónica Analítica)10分钟
STEM (Scanning Transmission Electron Microscope)10分钟
Imágenes en STEM: HAADF y en tres dimensiones10分钟
Tomografía electrónica (ET)10分钟
EELS (Electron Energy-Loss Spectrometry)10分钟
Quiz1 个练习
Microscopía Electrónica de Transmisión de Barrido (STEM)20分钟
4
完成时间(小时)
完成时间为 2 小时

Módulo 4: Microscopía de Fuerzas Atómicas (AFM)

En este módulo analizamos el Microscopio de Fuerzas Atómicas que significó un hito a principios de los 80 para la evolución y consolidación de la nanotecnología ya que permite la medida de todo tipo de nanoestructuras de una forma rápida, sencilla y no destructiva. Durante el curso veremos su esquema y funcionamiento y podremos comprobar su gran potencialidad y alta versatilidad. El objetivo principal del curso es dar las herramientas básicas para la utilización práctica de un AFM de manera autosuficiente. ...
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1 个视频 (总计 4 分钟), 5 个阅读材料, 1 个测验
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Reading5 个阅读材料
Un poco de historia10分钟
Operación básica del AFM10分钟
Modos topográficos10分钟
Nanotribología y nanomecánica10分钟
Caracterización eléctrica y magnética de muestras10分钟
Quiz1 个练习
Microscopía de Fuerzas Atómicas (AFM)38分钟

讲师

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Sònia Estradé

Departamento de Electrónica
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Albert Cornet

Departamento de Electrónica
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Jordi Díaz

Centros Científicos y Tecnológicos, Unidad de Técnicas Nanométricas
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Aránzazu Villuendas

Centros Científicos y Tecnológicos, Microscopía Electrónica de Transmisión Aplicada a los Materiales
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Joan Mendoza

Centros Científicos y Tecnológicos, Microscopía Electrónica de Transmisión Aplicada a los Materiales
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Francesca Peiró

Departamento de Electrónica

关于 Universitat de Barcelona

The University of Barcelona is the most formidable public institution of higher education in Catalonia, catering to the needs of the greatest number of students and delivering the broadest and most comprehensive offering in higher educational courses. The UB is also the principal centre of university research in Spain and has become a European benchmark for research activity, both in terms of the number of research programmes it conducts and the excellence these have achieved....

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